日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型x射線熒光光譜儀(WD-XRF，簡(jiǎn)稱理學(xué)波譜)一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由...

手持式光譜儀是一種光譜分析儀器，基于XRF光譜分析技術(shù)，當(dāng)原子內(nèi)層高能X射線與原子發(fā)生摩擦碰撞時(shí)，就會(huì)驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子，從而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài)，當(dāng)較外層的電子躍到空穴時(shí)，擊出的光子可能再次被吸收，而逐出較外層的另一...

隨著國(guó)內(nèi)黃金交易市場(chǎng)的全面開放，無(wú)損驗(yàn)貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用x熒光分析技術(shù)的角度，提出一些避免誤區(qū)的觀點(diǎn)。一、x射線熒光分析基本原理所謂熒光，就是在光的照射下發(fā)出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發(fā)出的x射線，它...

影響直讀光譜儀分析結(jié)果的因素有哪些1、控制試樣在實(shí)際工作中，由于試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的冶金過程和某些物理狀態(tài)的差異，常常使工作曲線發(fā)生變化，通常標(biāo)準(zhǔn)樣品多為鍛造和軋制狀態(tài)，而日常分析為澆鑄狀態(tài)。為了避免試樣因冶金狀態(tài)變化給分析結(jié)果帶影響，常常應(yīng)使...

我國(guó)果樹栽培的土壤基本養(yǎng)分總的概況可歸納為普遍缺氮，大部分缺磷，部分缺鉀和中量及微量營(yíng)養(yǎng)元素。近年來由于磷肥的投入超過作物吸收的數(shù)量，土壤中磷素有明顯積累，缺磷的面積縮小；鉀素投入不足，水果產(chǎn)出帶走的鉀大于投入，消耗了土壤中的鉀，造成缺鉀的...

質(zhì)檢機(jī)構(gòu)行業(yè)應(yīng)用（貴金屬、珠寶玉石）各地區(qū)各級(jí)質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局下屬事業(yè)單位質(zhì)量計(jì)量監(jiān)督檢測(cè)所有設(shè)置珠寶首飾檢驗(yàn)室或貴金屬檢驗(yàn)室等，主要職責(zé)是對(duì)企業(yè)或個(gè)人送檢及質(zhì)量執(zhí)法抽檢樣品的檢測(cè)和評(píng)級(jí)認(rèn)證。針對(duì)貴金屬（金、鉑、鈀、銀等）飾品、鉆石分級(jí)、珠寶...